对电子元件三维(3D)集成的需求正在稳步增长。尽管存在巨大的加工挑战,但硅通孔(TSV)技术成为3D集成单晶器件组件的唯一可行方法。尽管单片3D(M3D)集成方案显示出发展前景,但没有中间晶圆的单晶半导体无缝连接尚未得到证实。这一挑战源于在低温下进行生产线后端工艺后,在非晶或多晶表面上生长单晶保护底层电路存在很大困难。因此,单晶M3D的实用生长解决方案仍未见报道。
近期,由美国麻省理工学院、韩国三星先进技术学院、韩国成均馆大学和美国德克萨斯大学达拉斯分校研究人员组成的团队,设计了一种多层芯片,这种芯片不需要任何硅晶圆衬底,并且能在足够低的温度下、在非晶和多晶表面生长单晶沟道材料实现3D集成,以保留底层电路[1]。
通过充分利用该新生长技术,研究团队展示了基于单晶过渡金属二硫化物(TMD)的无缝单片集成CMOS,也称为互补FET(CFET)或3D堆叠FET(3DS FET),在基于WSe2的pMOS上成功生长单晶MoS2 n型沟道而不会造成损坏,为M3D以单晶形式集成各种电子硬件提供了发展机会。
研究团队将两种不同的过渡金属二硫化物(TMD)层二硫化钼和二硒化钨直接交替堆叠,允许高性能晶体管、内存以及逻辑元件可以在任何随机晶体表面上构建,可成倍增加芯片上的晶体管数量,不需要任何硅晶圆衬底,从而实现更好、更快的层间通信和计算。
[1] Ki Seok Kim, Seunghwan Seo, Junyoung Kwon, et al. Growth-based monolithic 3D integration of single-crystal 2D semiconductors [J]. Nature, 2024, 636:615–621. https://www.nature.com/articles/s41586-024-08236-9