近日,NIST的研究人员提出了一项根据时域中采样的数据进行功率谱密度(PSD)估算的方法。这项工作的动机是研究人员最近开发的数字辐射测量技术,其中辐射光谱是通过处理数字采样信号获得的。PSD 估算可以通过二次估算器来执行,并且估计器的均方误差最小化会生成最佳窗口选择。为了量化数字信号处理中非理想PSD估算的不确定性,研究人员制定了方差和偏差的界限。研究人员还给出了频谱测量的窗口估计值,以便在计算效率和幅度测量精度方面进行比较。最后,研究人员显示了真实数据和模拟数据的一些示例以进行比较。
相关研究成果已于2024年9月11日发表在《IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement》期刊上(DOI:10.1109/TIM.2024.3458037)。