High Tech Research的Micronite 技术用于加工过程控制是为了确保零缺陷质量。两个屏幕提供了更多的过程识别、可视化和决策。特征包括免提数据录入、刀具特征的过程视图、检查结果汇总和基于人工智能的过程图以及决策和过程相关统计。
多功能检查过程跟踪（IPTracK）面板使操作者能够捕获数据并自动将专家系统馈送给过程控制的指定模型。无需操作员输入待测特征序列，减少检查时间，提高数据精度，可以自动完成全尺寸检查。接口识别不同的量规，并通过网络发送数据。结果立即显示在IPTracK面板上。分开的屏幕分为主要功能，旨在零缺陷，非统计过程控制，包括检查摘要与行动信息和过程图与特征定义的信息附加到每个样本。
过程支持屏幕执行详细的工具和动作记录。自定义格式化模板包含具有相关特性的工具列表。工具磨损模拟模型建立工具寿命数据库，以确定减少刀具磨损的原因。
