【内容概述】据光行天下7月28日报道,清华大学化学系许华平教授团队在极紫外(EUV)光刻材料上取得重要进展,开发出一种基于聚碲氧烷(Polytelluoxane, PTeO)的新型光刻胶,为先进半导体制造中的关键材料提供了新的设计策略。相关成果以“聚碲氧烷作为EUV光刻胶的理想配方”(Polytelluoxane as the ideal formulation for EUV photoresist)为题,于7月16日发表于《科学进展》(Science Advances)期刊。
许华平教授课题组基于团队早期发明的聚碲氧烷开发出一种全新的EUV光刻胶,满足了上述理想光刻胶的条件。在该项研究中,团队将高EUV吸收元素碲(Te)通过Te─O键直接引入高分子骨架中。碲具有除惰性气体元素氙(Xe)、氡(Rn)和放射性元素砹(At)之外最高的EUV吸收截面,EUV吸收能力远高于传统光刻胶中的短周期元素和Zn、Zr、Hf和Sn等金属元素,显著提升了光刻胶的EUV吸收效率。同时,Te─O键较低的解离能使其在吸收EUV后可直接发生主链断裂,诱导溶解度变化,从而实现高灵敏度的正性显影。这一光刻胶仅由单组份小分子聚合而成,在极简的设计下实现了理想光刻胶特性的整合,为构建下一代EUV光刻胶提供了清晰而可行的路径。
(论文原文见附件)