《Instrument Systems展示了用于激光器和垂直腔面发射激光器（VCSEL）表征的快速高分辨率光谱辐射计》

• 来源专题：集成电路
• 编译者： Lightfeng
• 发布时间：2019-01-20

在Photonics West德国馆，Instrument Systems公司展示了其用于表征激光光源和显示器的超高分辨率光谱辐射计，即CAS 140CT-HR高分辨率阵列光谱辐射计，专门用于窄带发射源的绝对表征。参考设备CAS 140D构成了系统的基础，并由高分辨率CAS 140CT-HR模型补充。

结合各种配件，可以高精度测量LED模块和显示器的色坐标，色温或显色指数。该公司提供的测量结果为具有高达0.2nm半带宽的高光谱分辨率，并且测量时间短至9ms。与传统技术相比，CAS 140CT-HR更具有优势，在操作中特别稳定和可靠，适用于严格的生产和实验。

高级光谱辐射计可以设置为DTS系统，用于单独的显示测量。使用通过光纤连接到光谱仪的TOP 200望远镜光学探头发射光辐射，并采用柔性光纤连接器，可以更轻松的更换测量适配器，快速配置系统以用于其他应用。