热点弛豫时间(τth)是一个重要的参数定义的最大超导纳米线单光子探测器计数率(SNSPDs)。我们研究了τth NbN-based SNSPDs各种基质使用双光子检测方法基于pump-probe光谱技术。我们观察到,τth强烈增加与双光子增加偏置电流的检测机制。此外,最低热点弛豫时间(τth)由熔体温度最小值没有明显影响;这与之前报告的WSi SNSPDs不同。此外,一个强大的依赖(τth)最小的底物被发现。最低(τth)最小为11.6 ps SNSPDs由5.5 nm厚的NbN公司禁止在分别以(100),而最大(τth)分钟34.5 ps SNSPDs由7.5 nm厚的NbN公司禁止在Si(100)。我们提出了一个直接关联的值τth和程度的障碍电影NbN公司禁止种植在不同的基质。
——文章发布于2018年1月24日