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《宽带近场扫描微波显微镜的全波建模》

  • 来源专题：纳米科技
  • 编译者： 郭文姣
  • 发布时间：2017-12-04

  • 应用扫描微波显微镜(SMM)的三维有限元数值模拟方法，对样品的局部材料性质进行全波量化。该模型考虑了在以往基于低频假设的模型中忽略的纳米级探针的辐射和散射损耗。实现了近程曲线和常数高度的扫描技术。此外，我们得出的结论是，SMM具有作为宽带介电光谱学的潜力，在更高的频率上可以达到THz。实验结果表明了该模型的准确性。根据实验结果，得出结论。

    ——文章发布于2017年11月22日

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