x射线ptychographic显微镜结合了raster扫描x射线显微镜的优点和最近发展的相干衍射成像技术。它既不受限于x射线光学的制造挑战，也不受孤立样品制备的要求，也不受限于在原则上波长有限的分辨率，以及对相位问题的稳定访问和解决。在本综述中，我们将讨论x射线的ptychography的基本原理，并总结过去十年中x射线ptychographic显微术和x射线断层摄影术的发展的主要里程碑，这是第一次用x射线进行的演示。我们也强调在生命和材料科学中应用的潜力，并讨论最新的先进概念和可能的未来发展。
