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High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications
EISBN：
9781461507659
PISBN：
9780306473500
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
2003
版次：
2003
作者：
Jon Orloff,Lynwood Swanson,Mark Utlaut
主题词：
Materials Science,Characterization and Evaluation of Materials,Physics,general,Optical and Electronic Materials,Optics,Lasers,Photonics,Optical Devices
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
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作者：
S. Picraux
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出版时间：
1974
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S. T. Picraux,E. P. EerNisse,F. L. Vook
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9781468420791
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出版时间：
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Roger Kelly,M. Fernanda da Silva
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9789400912670
出版社：
Springer Netherlands
出版时间：
1989
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