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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 - Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method
EISBN：9781119818984
PISBN：9781786306876
出版社：Wiley
出版时间：2021
作者：Dahoo
主题词：一般工业技术
语种：英语
所属数据库：Wiley电子图书
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