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COMPUTED ELECTRON MICROGRAPHS AND DEFECT IDENTIFICATION
PISBN：0444104623
出版社：NORTH-HOLLAND PUBLISHING COMPANY
作者：A.K.HEAD P.HUMBLE L.M.CLAREBROUGH A.J.MORTON AND C.T.FORWOOD
语种：英语
所属数据库：中国科学院生物物理所电子图书
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