Reliability of Microtechnology

EISBN：9781441957603

PISBN：9781441957597

出版社：Springer New York

出版类型：Monograph

出版时间：2011

版次：1

作者：Johan Liu,Olli Salmela,Jussi Sarkka,James E. Morris,Per-Erik Tegehall,Cristina Andersson

主题词：Electronics and Microelectronics,Instrumentation,Optical and Electronic Materials,Quality Control,Reliability,Safety and Risk,Nanotechnology and Microengineering

语种：英语

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