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Defects in Microelectronic Materials and Devices
EISBN：
9781420043778
PISBN：
9781420043761
出版社：
Taylor & Francis Group
出版时间：
2008-11-19
版次：
1
作者：
Fleetwood,Daniel M.;Schrimpf,Ronald D.;Schrimpf,Ronald D.
主题词：
Engineering,Engineering: Electrical
语种：
英语
所属数据库：
ProQuest Ebook Central
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