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Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods
EISBN：9781461595373
PISBN：9781461595397
出版社：Springer US
出版类型：Contributed volume
出版时间：1988
作者：A. Howie,U. Valdrè
主题词：Solid State Physics,Spectroscopy and Microscopy
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书
丛书题名：NATO ASI Series
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