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Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
EISBN:
9783319395319
PISBN:
9783319395302
出版社:
Springer International Publishing
出版类型:
Monograph
出版时间:
2016
版次:
1st ed. 2016
作者:
Umberto Celano
主题词:
Spectroscopy and Microscopy,Nanotechnology and Microengineering,Characterization and Evaluation of Materials
语种:
英语
所属数据库:
SpringerLink电子图书
丛书题名:
Springer Theses
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