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A Practical Guide to Surface Metrology
EISBN：
9783030294540
PISBN：
9783030294533
出版社：
Springer International Publishing
出版类型：
Professional book
出版时间：
2019
版次：
1st ed. 2019
作者：
Michael Quinten
主题词：
Physics,Measurement Science and Instrumentation,Characterization and Evaluation of Materials,Surface and Interface Science,Thin Films,Surfaces and Interfaces,Thin Films,Materials Engineering,Optics,Lasers,Photonics,Optical Devices
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Springer Series in Measurement Science and Technology
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出版时间：
2001
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