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Reliability, Yield, and Stress Burn-In
EISBN：9781461556718
PISBN：9780792381075
出版社：Springer US
出版类型：Contributed volume
出版时间：1998
版次：1998
作者：Way Kuo,Wei-Ting Kary Chien,Taeho Kim
主题词：Engineering,Electrical Engineering,Optical and Electronic Materials
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书(1815-2004)
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