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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
EISBN：
9783031196393
PISBN：
9783031196386
出版社：
Springer Nature
出版时间：
2023
作者：
Patrick Girard,Shawn Blanton,Li-C. Wang
主题词：
Machine Learning in Design and Test,VLSI Design for Machine Learning,Smart Analytics for semiconductor design and test,Intelligent VLSI Test Engineering,Intelligent Yield Optimization
学科：
Engineering
语种：
英语
所属数据库：
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出版时间：
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