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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
EISBN：
9783030156121
PISBN：
9783030156114
出版社：
Springer International Publishing
出版类型：
Monograph
出版时间：
2019
版次：
1st ed. 2019
作者：
Umberto Celano
主题词：
Physics,Spectroscopy and Microscopy,Characterization and Evaluation of Materials,Electronics and Microelectronics,Instrumentation,Optical and Electronic Materials,Nanoscale Science and Technology,Nanotechnology
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
NanoScience and Technology
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