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Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
EISBN：
9783319005904
PISBN：
9783319005898
出版社：
Springer International Publishing
出版类型：
Monograph
出版时间：
2013
作者：
Kipp van Schooten
主题词：
Semiconductors,Nanotechnology,Spectroscopy and Microscopy,Nanoscale Science and Technology,Nanotechnology and Microengineering,Quantum Information Technology,Spintronics
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Springer Theses
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2015-05-19
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