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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
EISBN:
9781441966063
PISBN:
9781441966056
出版社:
Springer US
出版类型:
Monograph
出版时间:
2010
版次:
1
作者:
Amith Singhee,Rob A. Rutenbar
主题词:
Circuits and Systems,Electronics and Microelectronics,Instrumentation
语种:
英语
所属数据库:
SpringerLink电子图书
丛书题名:
Integrated Circuits and Systems
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