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Testing Static Random Access Memories
EISBN：
9781475767063
PISBN：
9781402077524
出版社：
Springer US
出版类型：
Monograph
出版时间：
2004
版次：
2004
作者：
Said Hamdioui
主题词：
Engineering,Circuits and Systems,Electrical Engineering,Characterization and Evaluation of Materials,Optical and Electronic Materials
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
Frontiers in Electronic Testing
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