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Physical Principles of Electron Microscopy
EISBN:
9780387260167
PISBN:
9780387258003
出版社:
Springer US
出版类型:
Monograph
出版时间:
2005
作者:
Ray F. Egerton
主题词:
Characterization and Evaluation of Materials,Nanotechnology,Biological Microscopy
语种:
英语
所属数据库:
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