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Defects in High-k Gate Dielectric Stacks
EISBN：
9781402043673
PISBN：
9781402043659
出版社：
Springer Netherlands
出版类型：
Proceedings
出版时间：
2006
作者：
Evgeni Gusev
主题词：
Electrical Engineering,Condensed Matter Physics,Electronics and Microelectronics,Instrumentation
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Nato Science Series II: (closed)
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