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数字集成电路测试优化 : 测试压缩、测试功耗优化、测试调度
PISBN:
9787030278944
出版类型:
专著
出版时间:
2010-06-01
版次:
1
作者:
李晓维[等]著
学科:
动力与电气工程
语种:
中文
所属数据库:
科学文库
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