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Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
EISBN:
9780387292618
PISBN:
9780387292601
出版社:
Springer US
出版类型:
Graduate/advanced undergraduate textbook
出版时间:
2007
作者:
Terry L. Alford,Leonard C. Feldman,James W. Mayer
主题词:
Solid State Physics,Condensed Matter Physics,Electronics and Microelectronics,Instrumentation
语种:
英语
所属数据库:
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