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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
EISBN：
9780306470400
PISBN：
9780792379911
出版社：
Springer US
出版类型：
Graduate/advanced undergraduate textbook
出版时间：
2002
作者：
Michael L. Bushnell,Vishwani D. Agrawal
主题词：
Circuits and Systems,Electrical Engineering,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Frontiers in Electronic Testing
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M. Bushnell,Vishwani Agrawal
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2002
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作者：
Rui Paulo da Silva Martins,Pui-In Mak
EISBN：
9783031222313
出版社：
Springer Nature
出版时间：
2023
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
作者：
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EISBN：
9781402053153
出版社：
Springer Netherlands
出版时间：
2006
Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits
作者：
Jose Luis Huertas Díaz
EISBN：
9780387235219
出版社：
Springer US
出版时间：
2004
Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits
作者：
José L. Huertas
EISBN：
9780387235219
出版社：
Springer US
出版时间：
2004
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Gordon W. Roberts,Albert K. Lu
EISBN：
9781461523413
出版社：
Springer US
出版时间：
1995
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