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Ellipsometry at the Nanoscale
EISBN：9783642339561
PISBN：9783642339554
出版社：Springer Berlin Heidelberg
出版类型：Monograph
出版时间：2013
作者：Maria Losurdo,Kurt Hingerl
主题词：Nanotechnology and Microengineering,Measurement Science and Instrumentation,Characterization and Evaluation of Materials,Nanotechnology
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书
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