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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
EISBN：
9781402051883
PISBN：
9781402051876
出版社：
Springer Netherlands
出版类型：
Professional book
出版时间：
2007
作者：
Charles C. Chiang,Jamil Kawa
主题词：
Circuits and Systems,Electronics and Microelectronics,Instrumentation,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design,Processor Architectures,Software Engineering/Programming and Operating Systems
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Series on Integrated Circuits and Systems
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作者：
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