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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume 3: Analysis methodologies
EISBN：9780750350228
PISBN：9780750350204
出版社：IOP Publishing
出版时间：2023
作者：Hockett
主题词：Quantum Metrology with Photoelectrons
学科：物理学
语种：英语
所属数据库：IOP电子图书1
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