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Industrial X-Ray Computed Tomography
EISBN:
9783319595733
PISBN:
9783319595719
出版社:
Springer International Publishing
出版类型:
Professional book
出版时间:
2018
版次:
1st ed. 2018
作者:
Simone Carmignato,Wim Dewulf,Richard Leach
主题词:
Materials Science,Characterization and Evaluation of Materials,Optical and Electronic Materials,Atomic,Molecular,Optical and Plasma Physics
语种:
英语
所属数据库:
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出版时间:
1972
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