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Scanning Microscopy for Nanotechnology
EISBN：
9780387396200
PISBN：
9780387333250
出版社：
Springer New York
出版类型：
Monograph
出版时间：
2007
作者：
Weilie Zhou,Zhong Lin Wang
主题词：
Nanotechnology,Characterization and Evaluation of Materials,Optical and Electronic Materials,Measurement Science and Instrumentation
语种：
英语
所属数据库：
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