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Kelvin Probe Force Microscopy
EISBN：
9783319756875
PISBN：
9783319756868
出版社：
Springer International Publishing
出版类型：
Monograph
出版时间：
2018
版次：
1st ed. 2018
作者：
Sascha Sadewasser,Thilo Glatzel
主题词：
Physics,Spectroscopy and Microscopy,Surfaces and Interfaces,Thin Films,Nanotechnology and Microengineering,Characterization and Evaluation of Materials,Measurement Science and Instrumentation
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Springer Series in Surface Sciences
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