登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
电子图书
图书详情
METHODOLOGY FOR THE DIGITAL CALIBRATION OF ANALOG CIRCUITS AND SYSTEMS
EISBN：
9781402042539
PISBN：
9781402042522
出版社：
Springer Netherlands
出版类型：
Monograph
出版时间：
2006
作者：
Marc Pastre,Maher Kayal
主题词：
Circuits and Systems,Electrical Engineering,Electronics and Microelectronics,Instrumentation
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
The International Series in Engineering and Computer Science
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位
点赞
收藏
原文链接
分享
相关推荐
Analog Design Issues in Digital VLSI Circuits and Systems
作者：
Juan J. Becerra,Eby G. Friedman
EISBN：
9781461561019
出版社：
Springer US
出版时间：
1997
Analog Design Issues in Digital VLSI Circuits and Systems
作者：
Juan J. Becerra,Eby G. Friedman
EISBN：
9781461561019
出版社：
Springer US
出版时间：
1997
Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems
作者：
Ruey-wen Liu
EISBN：
9781461597476
出版社：
Springer US
出版时间：
1991
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
作者：
Manoj Sachdev
EISBN：
9781475749267
出版社：
Springer US
出版时间：
1999
Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems
作者：
Ruey-wen Liu
EISBN：
9781461597476
出版社：
Springer US
出版时间：
1991
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
作者：
Manoj Sachdev
EISBN：
9781475749267
出版社：
Springer US
出版时间：
1999
×
订购单位
×
电子书下载
将全部文件下载下来，放在一个目录中，右键点击后缀名为.zip的文件，用 winrar 、360压缩等压缩软件解压，就都能解压出来了。
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位