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Terrestrial Neutron-induced Soft Error In Advanced Memory Devices
EISBN：9789812778826
PISBN：9789812778819
出版社：World Scientific Publishing Company
出版时间：2008-03-28
作者：Nakamura,Takashi;Ibe,Eishi;Baba,Mamoru;Yahagi,Yasuo;Kameyama,Hideaki
主题词：Engineering,Engineering: Electrical
语种：英语
所属数据库：ProQuest Ebook Central
丛书题名：Lecture Notes Series, Institute For Mathematical Sciences, National University Of Singapore
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