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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
EISBN：
9781461315278
PISBN：
9780792390589
出版社：
Springer US
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
1990
版次：
1990
作者：
Debashis Bhattacharya,John P. Hayes
主题词：
Computer Science,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design,Electrical Engineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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