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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
EISBN：
9781461421917
PISBN：
9781461421900
出版社：
Springer US
出版类型：
Monograph
出版时间：
2012
作者：
Thomas Vogt,Wolfgang Dahmen,Peter Binev
主题词：
Characterization and Evaluation of Materials,Analytical Chemistry,Nanotechnology,Theoretical and Computational Chemistry,Measurement Science and Instrumentation
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Nanostructure Science and Technology
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2000
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