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Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
EISBN：
9783030415365
PISBN：
9783030415358
出版社：
Springer International Publishing
出版类型：
Monograph
出版时间：
2020
版次：
1st ed. 2020
作者：
António Manuel Lourenço Canelas,Jorge Manuel Correia Guilherme,Nuno Cavaco Gomes Horta
主题词：
Engineering,Circuits and Systems,Electronics and Microelectronics,Instrumentation
语种：
英语
所属数据库：
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2006
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