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Data Mining and Diagnosing IC Fails
EISBN：
9780387263519
PISBN：
9780387249933
出版社：
Springer US
出版类型：
Professional book
出版时间：
2005
作者：
Leendert M. Huisman
主题词：
Circuits and Systems,Electronics and Microelectronics,Instrumentation
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Frontiers in Electronic Testing
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Springer US
出版时间：
2007
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