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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
EISBN：
9789400776630
PISBN：
9789400776623
出版社：
Springer Netherlands
出版类型：
Monograph
出版时间：
2014
作者：
Jacopo Franco,Ben Kaczer,Guido Groeseneken
主题词：
Semiconductors,Circuits and Systems,Optical and Electronic Materials,Electronic Circuits and Devices
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Springer Series in Advanced Microelectronics
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