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Optical Measurement of Surface Topography
EISBN:
9783642120121
PISBN:
9783642120114
出版社:
Springer Berlin Heidelberg
出版类型:
Monograph
出版时间:
2011
作者:
Richard Leach
主题词:
Characterization and Evaluation of Materials,Microwaves,RF and Optical Engineering,Measurement Science and Instrumentation,Surfaces and Interfaces,Thin Films
语种:
英语
所属数据库:
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