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In-situ Materials Characterization
EISBN：
9783642451522
PISBN：
9783642451515
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版类型：
Monograph
出版时间：
2014
作者：
Alexander Ziegler,Heinz Graafsma,Xiao Feng Zhang,Joost W.M. Frenken
主题词：
Nanoscale Science and Technology,Characterization and Evaluation of Materials,Spectroscopy and Microscopy,Surfaces and Interfaces,Thin Films,Nanotechnology,Structural Materials
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Springer Series in Materials Science
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