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Electron Beam Testing Technology
EISBN：9781489915221
PISBN：9780306443602
出版社：Springer US
出版类型：Contributed volume
出版时间：1993
版次：1993
作者：John T.L. Thong
主题词：Physics,Solid State Physics,Spectroscopy and Microscopy,Condensed Matter Physics,Crystallography and Scattering Methods,Electrical Engineering,Optical and Electronic Materials
语种：英语
所属数据库：SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：Microdevices
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