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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
EISBN：
9783031153457
PISBN：
9783031153440
出版社：
Springer Nature
出版时间：
2023
作者：
Mohsen Raji,Behnam Ghavami
主题词：
reliability of digital systems,reliability of nano-scale CMOS digital circuits,Reliability Analysis of Flip-Flops,Reliability of Nanometer VLSI Systems,Ageing of Integrated Circuits
学科：
Engineering
语种：
英语
所属数据库：
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