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Risk Methodologies for Technological Legacies
EISBN：
9789401000970
PISBN：
9781402012570
出版社：
Springer Netherlands
出版类型：
Contributed volume
出版时间：
2003
版次：
2003
作者：
Dennis Bley,Vitaly A. Eremenko
主题词：
Environment,Environmental Management,Quality Control,Reliability,Safety and Risk,Atmospheric Protection,Air Quality Control,Air Pollution
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名：
Nato Science Series: IV:
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出版时间：
2005
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