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Field Emission Scanning Electron Microscopy
EISBN：
9789811044335
PISBN：
9789811044328
出版社：
Springer Singapore
出版类型：
Brief
出版时间：
2018
版次：
1st ed. 2018
作者：
Nicolas Brodusch,Hendrix Demers,Raynald Gauvin
主题词：
Materials Science,Characterization and Evaluation of Materials,Spectroscopy and Microscopy,Nanotechnology and Microengineering
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
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9783662135624
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