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Circuit Design for Reliability
EISBN：
9781461440789
PISBN：
9781461440772
出版社：
Springer New York
出版类型：
Monograph
出版时间：
2015
作者：
Ricardo Reis,Yu Cao,Gilson Wirth
主题词：
Circuits and Systems,Quality Control,Reliability,Safety and Risk,Computer-Aided Engineering (CAD,CAE) and Design
语种：
英语
所属数据库：
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1997
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