登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
电子图书
图书详情
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
EISBN：
9781402083631
PISBN：
9781402083624
出版社：
Springer Netherlands
出版类型：
Monograph
出版时间：
2008
作者：
Andrei Pavlov,Manoj Sachdev
主题词：
Circuits and Systems,Memory Structures
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Frontiers In Electronic Testing
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位
点赞
收藏
原文链接
分享
相关推荐
The Analytical Foundations of Loop Antennas and Nano-Scaled Rings
作者：
Arnold McKinley
EISBN：
9789811358937
出版社：
Springer Singapore
出版时间：
2019
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
作者：
Oleg Semenov,Hossein Sarbishaei,Manoj Sachdev
EISBN：
9781402083013
出版社：
Springer Netherlands
出版时间：
2008
Near-Field Characterization of Micro/Nano-Scaled Fluid Flows
作者：
Kenneth D. Kihm
EISBN：
9783642204265
出版社：
Springer Berlin Heidelberg
出版时间：
2011
CMOS Circuit Design for RF Sensors
作者：
Gunnar Gudnason,Erik Bruun
EISBN：
9780306475283
出版社：
Springer US
出版时间：
2002
Circuit Design for CMOS VLSI
作者：
John P. Uyemura
EISBN：
9781461536208
出版社：
Springer US
出版时间：
1992
Digital CMOS Circuit Design
作者：
Marco Annaratone
EISBN：
9781461322856
出版社：
Springer US
出版时间：
1986
×
订购单位
×
电子书下载
将全部文件下载下来，放在一个目录中，右键点击后缀名为.zip的文件，用 winrar 、360压缩等压缩软件解压，就都能解压出来了。
问图书管理员
馆际互借
查看订购单位