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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
EISBN：
9789814451215
PISBN：
9789814451208
出版社：
Springer Singapore
出版类型：
Brief
出版时间：
2013
作者：
Cher Ming Tan,Feifei He
主题词：
Quality Control,Reliability,Safety and Risk,Electronic Circuits and Devices,Atomic,Molecular,Optical and Plasma Physics
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
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9781402080630
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2005
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