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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
EISBN：
9780857293107
PISBN：
9780857293091
出版社：
Springer London
出版类型：
Monograph
出版时间：
2011
版次：
1
作者：
Cher Ming Tan,Wei Li,Zhenghao Gan,Yuejin Hou
主题词：
Quality Control,Reliability,Safety and Risk,Computational Intelligence,Electronics and Microelectronics,Instrumentation,Optical and Electronic Materials,Partial Differential Equations
语种：
英语
所属数据库：
SpringerLink电子图书
丛书题名：
Springer Series in Reliability Engineering
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